高壓放大器在液晶顯示圖像殘留研究中的應(yīng)用
實(shí)驗(yàn)名稱:納米粒子摻雜對(duì)響應(yīng)時(shí)間的影響
測(cè)試設(shè)備:高壓放大器、信號(hào)發(fā)生器、示波器、熱臺(tái)控制器、衰減器、探測(cè)器等。
實(shí)驗(yàn)過程:
圖1:VAN盒響應(yīng)時(shí)間的測(cè)量裝置
響應(yīng)時(shí)間也是影響液晶顯示圖像殘留的重要參數(shù),響應(yīng)時(shí)間越短越不容易產(chǎn)生圖像殘留。實(shí)驗(yàn)中測(cè)量響應(yīng)時(shí)間的裝置如圖1所示,光源為632.8nm的紅色激光,光源經(jīng)過衰減器、可調(diào)光闌、偏振片和λ/4波片后成圓偏振光,經(jīng)過起偏器后成線偏振光,起偏器與檢偏器的光軸方向成90°,熱臺(tái)控制液晶盒的溫度為28°C。信號(hào)發(fā)生器輸出1kHzAC方波信號(hào)和DC信號(hào)的組合波形,組合波形的周期為2s,經(jīng)高壓放大器放大后施加在液晶盒上。當(dāng)電壓超過液晶盒閾值電壓后,探測(cè)器會(huì)檢測(cè)到光強(qiáng)的變化并傳輸?shù)绞静ㄆ魃希ㄟ^示波器可以觀察到液晶的動(dòng)態(tài)響應(yīng)過程。
實(shí)驗(yàn)結(jié)果:
圖2:不同摻雜濃度γ-Fe2O3納米粒子與負(fù)性LC混合物在VAN盒中的下降和上升時(shí)間
圖3:不同摻雜濃度與響應(yīng)時(shí)間的關(guān)系(a)歸一化透過率與下降時(shí)間的關(guān)系;(b)歸一化透過率與上升時(shí)間的關(guān)系;(c)下降時(shí)間與摻雜濃度的關(guān)系;(d)上升時(shí)間與摻雜濃度的關(guān)系
實(shí)驗(yàn)測(cè)得的不同摻雜γ-Fe2O3納米粒子濃度對(duì)響應(yīng)時(shí)間的影響如圖2所示,由圖可知納米粒子摻雜對(duì)響應(yīng)時(shí)間有一定的影響。圖3(a)和圖3(b)分別給出了下降時(shí)間和上升時(shí)間的放大圖,其中下降時(shí)間為去電壓過程,上升時(shí)間為加電壓過程;由圖3(c)和圖3(d)可以看出上升時(shí)間和下降時(shí)間均隨摻雜濃度的增加先降低后升高,并在摻雜濃度為0.034wt%時(shí)達(dá)到最低值,在摻雜濃度為0.034wt%時(shí),下降時(shí)間可以縮短8.11%,上升時(shí)間可以縮短15.49%。SRDCV與響應(yīng)時(shí)間隨γ-Fe2O3納米粒子摻雜變化規(guī)律一致,說明γ-Fe2O3納米粒子的摻雜有效改善了VAN顯示模式的圖像殘留現(xiàn)象。
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圖:ATA-7015高壓放大器指標(biāo)參數(shù)
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